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2009年5月15日学术讲座通知
      更新时间:2009-5-13 16:36:31

讲座主题:电子产品可靠性新视角和展望

主讲人:Michael Pecht

讲座时间:5月15日上午9:00

讲座地点:武汉光电国家实验室A302

讲座摘要:
可靠性是产品或系统在特定时间和寿命循环环境中,按照特定要求(无失效或者有特定的工作限制)工作的能力。众多周知,电子可靠性预测方法手册(Mil-Hdbk-217, 217-Plus, Bellcore / Telcordia, PRISM, FIDES, SAE, GJB 299)对人们产生误导并提供错误的寿命预测,这就是为什么美国军队和许多商业公司放弃这些可靠性预测方法。尽管应力和破坏模型的应用产生更精确地结果,但是它们根据短期寿命测试数据来推测长期可靠性预测的应用受到限制,因为他们对产品实际工作环境应用条件的认识不足,这同样会影响到加速测试方法的有效性和经济性。
预兆和健康管理方法能够在实际应用条件下对系统可靠性进行评估。它集成了传感器数据和模型,这个模型可以评估产品在理想工况下偏离和退化,并基于当前和历史条件预测可靠性状态。
这次报告将讨论不同的诊断方法:1 可消耗器件的使用,比如比主产品更早失效的特高频噪声和熔丝,用来提供预先警告。2 迫近失效的参数监视和推理,比如性能参数的转换。3 寿命循环载荷下(温度、振动、辐射)应力和破坏建模。还将给出实施方法和结果的例子。

主讲人介绍: 
Michael Pecht,马里兰大学高级寿命循环工程中心主任。香港城市大学电子工程访问教授,威斯康辛大学电子工程硕士和工程力学硕士和博士,专业工程师,IEEE、ASME、IMAPS FELLOW,2008年获得最高可靠性荣誉——IEEE可靠性社会终生成就奖。担任IEEE可靠性学报主编八年,也是IEEE光谱社会的咨询委员会成员,微电子可靠性杂志主编和IEEE器件封装技术副编辑。他还是马里兰大学CALCE(高级寿命循环工程中心)的创始人,同时是机械工程系George Dieter首席教授和应用数学系教授。他写过20多本电子产品发展、应用和供应链管理的书籍和超过400篇科技文章。在过去十年他领导一个症断领域的研究团队,为100多家主要国际电子公司提供咨询,并在战略计划、设计、测试、诊断,IP、电子产品系统风险评估方面提供专业知识。由于他在可靠性研究方面的杰出贡献,他获得欧洲微纳米可靠性奖,在电子可靠性分析方面的研究使他获得电子封装3M研究奖和IMAPS William D. Ashman Memorial 成就奖。

 
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